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dernière mise à jour
22 mars 2013

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Mesure des Champs Magnétiques

deuxième partie (2/5) : fabrication de couche d'InSb

difficultés du dépôt d'une couche d' InSb
un procédé de dépôt itératif
le rôle de la température dans l'optimisation
les conséquences sur la mobilité des électrons
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position du problème


Les procédés classiques de dépôt d'alliages en couche mince sont décrits par ailleurs. Qu'il s'agisse de codéposition ou de pulvérisation cathodique ils sont convenables dès lors que les matériaux constitutifs de l'alliage ont des points de fusion pas trop éloignés, et subséquemment des pressions de vapeur saturante du même ordre de grandeur à des températures raisonnablement voisines. Ainsi par exemple si l'on prend les alliages Cu/Ni le cuivre fond à 1063°C et le nickel à 1565°C (à la pression atmosphérique) et il est très facile de piloter leur taux respectif de vaporisation à une pression de l'ordre de 10-5 Pascal pour toute proportion comprise entre 10 et 90% de l'un des constituants avec une précision meilleure que 1%.


Dans le cas des alliages InSb le problème est très différent. D'une part la composition à obtenir est unique : c'est la composition stoechiométrique, un atome de Sb pour un atome de In, la seule dont les propriétés de mobilité soient intéressantes. Tout écart à cette composition se traduit par une forte dégradation des propriétés de mobilité. Ensuite la difficulté principale provient du fait que les températures de fusion des deux matériaux sont très différentes et subséquemment leurs pressions de vapeur saturante à une même température très éloignées de plusieurs ordres de grandeur. Dans ces conditions il est exclus d'exploiter les procédés classiques de dépôt.


méthode de dépôt


En raison du trop grand écart entre les pressions de vapeur, d'une part, et de la très grande pression de vapeur de l'antimoine à la température ambiante, d'autre part, il n'est pas possible de coévaporer simultanément ces deux constituants. En effet la température nécessaire pour obtenir l'évaporation de l'indium et le rayonnement consécutif du creuset vers le substrat serait suffisant pour réévaporer partiellement l'antimoine en empêchant l'obtention d'un dépôt stoechiométrique et simultanément ce rayonnement vers le creuset d'antimoine serait de nature à induire une sublimation de celui-ci à un taux gigantesque et non contrôlable. La pression de vapeur élevée en résultant serait alors de nature à bloquer l'évaporation d'indium et à perturber sensiblement le processus de pompage.

Il a donc été décidé d'opérer des dépôts séparés de manière à obtenir un empilement de couches d'indium et d'antimoine alternées dans un rapport tel que la composition globale soit correcte. Pour cela une première couche d'indium est déposée sur le substrat isolant, puis le creuset d'antimoine est découvert et un dépôt d'antimoine est effectué à basse température, le substrat étant alors refroidi par une circulation d'eau afin de minimiser le risque de réévaporation. Dès que cette couche est obtenue le creuset d'antimoine est à nouveau obturé et dès que la pression est redevenue suffisamment basse pour procéder à une évaporation d'indium on effectue cette dernière toujours sur un substrat refroidi. On continue cette technique de sandwich jusqu'à obtention de la couche d'épaisseur totale souhaitée en s'arrangeant pour que la dernière couche soit de l'indium. Ainsi l'antimoine qui à faible température aurait tendance à se réévaporer ne le peut puisqu'il est encapsulé entre des couches d'indium.

Comme la méthode de micropesée par quartz n'est pas opérationnelle ici, en raison de la volatilité de l'antimoine, pour définir l'épaisseur globale de la couche d'antimoine on a procédé au chargement d'une quantité calibrée de matière et, via un étalonnage préalable selon une méthode optique, il nous est possible de définir à l'avance combien il faut d'antimoine pour obtenir une couche globale d'épaisseur voulue.

Le résultat obtenu est globalement de composition correcte mais en aucun cas il ne s'agit d'un alliage In/Sb de propriétés électroniques intéressantes. Il convient alors de procéder à un traitement d'interdiffusion afin d'obtenir cet alliage.


traitement thermique

La procédure d'interdiffusion fait appel à un simple traitement thermique. L'optimisation de ce traitement a nécessité une longue expérimentation : il a fallu déterminer la température optimale et la durée du traitement et bien évidemment identifier le résultat cristallographique obtenu. Nous donnons ci-dessous un condensé des essais effectués et de leurs résultats pour un ensemble de couches d'épaisseur globale 500nm


Dans une première série d'essais, on a simplement modifié la température de recuit afin d'identifier celle conduisant au meilleur résultat. Dans une seconde série d'essais, la durée de recuit à température optimale a été optimisée, de même le contrôle de la température du substrat pendant le dépôt a lui aussi fait l'objet d'une étude systématique.

A titre informatif nous donnons ci-dessous quelques éléments pour apprécier l'intérêt du traitement thermique sous la forme de spectre d'analyse structurale aux rayons X


Fig. spectre d'une multicouche après dépôt et avant traitement thermique


Fig. spectre de la même couche après traitement optimal

La comparaison des deux figures montre à l'évidence que la multicouche après dépôt est formée essentiellement des éléments In et Sb et de très peu de composé InSb (les pics 111 et 220 sont très faibles), tandis que sur la couche recuite à 180°C pendant 24h le spectre est typiquement celui d'InSb tel qu'on le trouve dans les tables ASTM. et les raies de In ou Sb purs ont disparu. En pratique dès 4 h de recuit les résultats sont déjà très satisfaisants.


mobilité des électrons


En ce qui concerne l'influence des températures et durées du traitement thermique sur les propriétés électroniques le tableau ci-dessous confirme à l'évidence les résultats d'analyse structurale. La plus grande mobilité est effectivement obtenue avec un recuit à 180°C pendant plus de 4h et un dépôt obtenu sur un substrat refroidi à l'ambiante (20°C). A une température supérieure à 200°C les résultats sont dégradés en raison de la réévaporation de l'antimoine.


L'évolution de la mobilité en fonction de la durée du recuit à 180°C montre qu'au bout de 24h on obtient sensiblement la valeur maximale théorique correspondant effectivement à un matériau constitué exclusivement d'InSb.


Le tableau montre aussi que juste après le dépôt la mobilité est quasi nulle, ce qui confirme qu'il n'y a quasiment pas d'InSb de formé lors du dépôt, et ce qui confirme simultanément que le contrôle de température du substrat a été très satisfaisant. Ce point est très important. En effet si la mobilité n'était pas nulle juste à la fin du dépôt cela signifierait qu'un processus de diffusion d'une couche dans l'autre s'est produit lors des dépôts, et donc que la température du substrat était suffisamment élevée pour que ce processus puisse se produire, et par conséquent qu'il y a toute chance pour qu'une partie de l'antimoine se soit réévaporée (par sublimation) pendant le dépôt d'In. La conséquence en aurait été que la stoechiométrie globale ne serait pas respectée et par suite qu'il serait impossible d'obtenir après recuit contrôlé de l'InSb pur, et donc une mobilité élevée et proche du maximum théorique.


S.G. Lee, Réalisation et caractérisation d'un capteur magnétique en couche mince, thèse de Doctorat, Université de Rouen, 12 octobre 1994.

J.A. Carroll & al., Preparation of high mobility InSb thin films, Solid-State Electronics, Vol9, 1966, pp383-387,

J.F.Spivak & al., High mobility InSb thin film by recrystallization, J.Appl.Phys., Vol36, 1965, pp 2321-2323

G.V. Samsonov, Handbook of the physico-chemical properties of the elements, Plenum Press, New York, 1968.